涂层测厚仪为什么自动模式下和指定NFE模式，数据差异这么大？
林上涂层测厚仪有三种测量模式，铁基模式（FE）、非铁基模式（NFE）和自动模式（FE/NFE）。前两者只能测试指定基材上的涂层厚度，而在自动模式下，仪器会根据测试基材自动切换测量模式，不需要手动更换测量模式，非常便于操作。不过有细心的朋友发现，有时候涂层测厚仪在自动模式下和指定NFE模式，测试出的数据差异有点大。这是为什么呢？本文就该问题作出解答。
事实上，只有在测试基材是磁性金属（铁基）的时候，才会出现自动模式下和指定NFE模式测试数据差异大的情况。在自动模式下，若测试基材是铁，仪器会自动切换到铁基（FE）模式。此时，仪器利用霍尔效应进行涂层厚度测量，仪器中的磁铁与涂层下方的磁性金属基体产生了磁场，两者之间建立了磁通路。通过磁场强度的变化计算出涂层厚度的大小。霍尔效应适合测试铁基体上非铁磁性涂层的厚度，通过霍尔效应去测量铁基材上的涂层，得到的数据是准确的。
而在非铁基模式（NFE）下，仪器采用电涡流原理进行测量，该原理适合非铁磁性金属基体上的非导电涂层厚度的测量，不适合测试铁磁性金属上的涂层厚度。不过，不适合并不代表测不出数据。
实际上，在NFE模式下，当测试基材是铁的时候，仪器也会有数据。这是因为铁也是导电材料，也可以生成涡流，仪器通过测头接收到铁基材产生的涡流来计算测头与金属基体距离，也就是涂层的厚度。但是使用NFE模式测出铁基材上的涂层厚度的数据是不准确的。 这也就导致了自动模式下和指定NFE模式，测试铁基材上的涂层会出现较大的数据差异。 所以，用户在测试铁基材的涂层厚度时，只能用自动模式（FE/NFE)或者是铁（FE）模式，这样得到的数据才是准确的。
林上涂层测厚仪种类多样，既有便于在复杂的测试条件下一边测试一边查看数据的分体式涂层测厚仪，也有方便携带外出的一体式仪器，还有可测试10μm以下超薄涂层的涂层测厚仪，多方位满足客户需求。欢迎广大用户前来选购。